日本J-RAS离子迁移测试装置产品优势

离子迁移测试装置（Ion Migration Test Device）用于测试电子产品中的材料是否存在离子迁移现象。其原理是在加速电场的作用下，使样品中的离子迁移到对面的电极上，从而检测出样品中是否存在离子迁移。

通常该装置由两个电极、电源、电压控制器和采样器等部分组成。样品被放置在两个电极之间，然后施加电场并记录电流随时间的变化情况。如果电流随时间逐渐增加，则说明样品中可能存在离子迁移现象。

离子迁移测试装置主要用于评估电子产品中使用的材料是否能够满足相关标准和法规的要求，以确保产品的可靠性和耐久性。

ECM-100离子迁移测试装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）。

ECM-100离子迁移测试装置产品优势

简单/便利

△采用驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。

△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。

△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。

△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。

高性能&高机能

△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。

→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。

△一台电脑可以增设400通道。

△每个通道可以设定不同的电压。

可靠性更高&操作更简洁

△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。

△配有CF卡，以防设备故障数据丢失。

△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。

△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。

用途

△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。

△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。

实例

△测试难度大的高阻值也能除去干扰，清晰得进行测试。

△16msec的高速抽样处理，不会漏掉任何一个数据。

△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。

离子迁移测试装置

产品关键词：离子迁移测试、CAF测试、绝缘电阻值检测、离子迁移检测设备、CAF设备、CAF试验、CAF测试方法、Conductive Anode Filaments